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          晶體晶格畸變非接觸式檢測設備CS-1的特點

        1. 發布日期:2024-05-21      瀏覽次數:362
          • 晶體晶格畸變非接觸式檢測設備CS-1的特點

            "Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光(波長400~800nm)透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設備。通過本設備可以實現快速、準確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態。

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            產品特征

            產品特長

            1. 高速測量(6" 襯底 90秒)
              ?可以最快速度簡捷方式觀察殘留應力分布。

            2. 縱向結晶評價
              ?因為是透視型結晶評價裝置,所以不只可以觀察襯底表面,還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。

            3. 可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測試效果
              ?可以取得同等測試效果,實現高速低成本。

            4. 價格競爭力
              ?在晶片測量裝置中,屬于性價比好的一款系統。

            可測量材料

            1. SiC單晶襯底、及SiC外延襯底

            2. GaN單晶襯底、及GaN外延襯底

            3. AlN單晶襯底、及AlN外延襯底

            4. 可視光可透視、有雙折射效果的結晶均可。

            測試效果不佳材料

            ?無可視光透視性材料:Si、GaAs等
            ?無雙折射效果材料:藍寶石、Ga2O3 等

            CS1畫像と目視畫像との比較


          聯系方式
          • 電話

          • 傳真

          在線交流
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